高頻直流高壓發(fā)生器關(guān)于泄漏電流的研究
更新時(shí)間：2016-08-05 點(diǎn)擊量：1168
由于絕緣電阻測(cè)量的局限性，所以在絕緣試驗(yàn)中就出現(xiàn)了測(cè)量泄漏電流的項(xiàng)目。關(guān)于泄漏電流的概念在上節(jié)中已加以說明。測(cè)量泄漏電流所用的設(shè)備要比兆歐表復(fù)雜，一般用高頻直流高壓發(fā)生器進(jìn)行測(cè)試。由于試驗(yàn)電壓高，所以就容易暴露絕緣本身的弱點(diǎn)，用高頻直流高壓發(fā)生器直測(cè)泄漏電流，這可以做到隨時(shí)進(jìn)行監(jiān)視，靈敏度高。并且可以用電壓和電流、電流和時(shí)間的關(guān)系曲線來判斷絕緣的缺陷。它屬于非破壞性試驗(yàn)。由于電壓是分階段地加到絕緣物上，便可以對(duì)電壓進(jìn)行控制。當(dāng)電壓增加時(shí)，薄弱的絕緣將會(huì)出現(xiàn)大的泄漏電流，也就是得到較低的絕緣電阻。
測(cè)量泄漏電流的原理和測(cè)量絕緣電阻的原理本質(zhì)上是*相同的，而且能檢出缺陷的性質(zhì)也大致相同。但由于泄漏電流測(cè)量中所用的電源一般均由高頻直流高壓發(fā)生器供給，并用高頻直流高壓發(fā)生器直接讀取泄漏電流。因此，它與絕緣電阻測(cè)量相比又有自己的以下特點(diǎn)：
?。?）試驗(yàn)電壓高，并且可隨意調(diào)節(jié)。測(cè)量泄漏電流時(shí)是對(duì)一定電壓等級(jí)的被試設(shè)備施以相應(yīng)的試驗(yàn)電壓，這個(gè)試驗(yàn)電壓比兆歐表額定電壓高得多，所以容易使絕緣本身的弱點(diǎn)暴露出來。因?yàn)榻^緣中的某些缺陷或弱點(diǎn)，只有在較高的電場(chǎng)強(qiáng)度下才能暴露出來。
?。?）泄漏電流可由高頻直流高壓發(fā)生器隨時(shí)監(jiān)視，靈敏度高，測(cè)量重復(fù)性也較好。
?。?）根據(jù)泄漏電流測(cè)量值可以換算出絕緣電阻值，而用兆歐表測(cè)出的絕緣電阻值則不可換算出泄漏電流值。因?yàn)橐獡Q算先要知道加到被試設(shè)備上的電壓是多少，兆歐表雖然在銘牌上刻有規(guī)定的電壓值，但加到被試設(shè)備上的實(shí)際電壓并非一定是此值，而與被試設(shè)備絕緣電阻的大小有關(guān)。當(dāng)被試設(shè)備的絕緣電阻很低時(shí)，作用到被試設(shè)備上的電壓也非常低，只有當(dāng)絕緣電阻趨于無窮大時(shí)，作用到被試設(shè)備上的電壓才接近于銘牌值。這是因?yàn)楸辉囋O(shè)備絕緣電阻過低時(shí)，兆歐表內(nèi)阻壓降使“線路”端子上的電壓顯著下降。
（4）可以用u-t的關(guān)系曲線并測(cè)量吸收比來判斷絕緣缺陷。在高頻直流高壓發(fā)生器直流高壓作用下，當(dāng)絕緣受潮或有缺陷時(shí)，電流隨加壓時(shí)間下降得比較慢，zui終達(dá)到的穩(wěn)態(tài)值也較大，即絕緣電阻較小。
